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簡要描述:電子散斑干涉實驗系統(tǒng)主要面向大專院校教學(xué)使用。用激光光束直接照射到測試表面,再用CCD采集變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋測定其離面位移。電子散斑干涉應(yīng)用廣泛,如物體形變測量、無損測量、振動測量等。
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MXY4000-4C 電子散斑干涉實驗系統(tǒng)
一、儀器介紹
電子散斑干涉(ESPI)實驗系統(tǒng)主要面向大專院校教學(xué)使用。用激光光束直接照射到測試表面,再用CCD采集變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋測定其離面位移。電子散斑干涉應(yīng)用廣泛,如物體形變測量、無損測量、振動測量等。
二、儀器特點
結(jié)構(gòu)簡單、精度高、非接觸、靈敏性好、處理信息快、不必暗房操作、實時顯示全場信息。
三、實驗內(nèi)容
電子散斑干涉實驗
四、實驗配置
基本配置
激光器;加熱用電源;CCD攝像機;圖像采集卡;擴(kuò)束鏡;分束器;二維平移底座;待測物體;通用底座;干板架;白屏;反射鏡等;
自行配置 計算機;顯示器;打印機
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